残留油分測定
金属部品に付着している残留油分量の測定が可能です。
金属部品は製造工程で様々な「油」が使用されますが、表面に付着した油が塗装、表面処理等の後工程で不良の原因となる場合があります。不良の発生を避けるために、部品に付着した油分量の管理が重要となります。FT-IRを用いることにより残留油分定量が可能です。
- 企業：株式会社大同分析リサーチ
- 価格：応相談
測定(金属 溶液) - メーカー・企業と製品の一覧
測定の製品一覧
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環境試料中の有害金属高感度測定
iCAP PRO XP ICP-OESを用いた分析事例のご紹介
Thermo Scientific iCAP PRO XP Duo ICP-OESを用いて、環境分野で代表的な河川水・水道水の認証標準物質を直接分析し、得られた結果と本装置の性能についてご紹介します。 河川水、水道水の認証標準物質の測定では、直接導入による優れた検出限界と定量精度を示すことができました。装置導入系は一般水溶液導入系を使用し、プラズマ条件はThermo Scientific Qtegra ISDSソフトウエアで測定しました。絶対検量線法を採用し、添加回収試験の結果から分析手法の妥当性が証明されました。 また、搭載されている紫外域に特化したeUVモードにより、As、Cd、Pb、Sb、Seなどの高感度測定が可能になります。また、主成分である高濃度含有元素を横方向測光で測定することにより、イオン化干渉を回避しながら幅広いダイナミックレンジで希釈せずに測定できました。 詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
固体表面のゼータ電位測定
ゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価
半導体における洗浄プロセスでは、CMPスラリーより表面に吸着するパーティクルや金属不純物、有機物の物理的もしくは、化学的洗浄が行われます。物理洗浄によってパーティクルを剥離した後に洗浄後の再付着を防止することが必要となります。これらの研磨および洗浄条件の検討では、CMPスラリーおよびウェーハのゼータ電位を測定し、スラリーとウェーハの静電相互作用を評価することが有効です。 今回は、スラリーとウェーハそれぞれのpHタイトレーションを行い、ゼータ電位測定をおこないました。 CMPスラリーとウェーハの静電相互作用の詳細については、カタログダウンロードより技術資料をダウンロードをしてください。
- 企業：大塚電子株式会社
- 価格：応相談
